LT-BTH-8000 လမ်းလျှောက်ဝင်နိုင်သော အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆ စဉ်ဆက်မပြတ် စမ်းသပ်ခန်း
| 1 | အပူချိန်အပိုင်းအခြား | - ၇၀ ℃~+၁၅၀ ℃ (T: – ၂၀ ℃ F: – ၄၀ ℃ S: – ၇၀ ℃) |
| 2 | စိုထိုင်းဆအပိုင်းအခြား | ၂၀% – ၉၈% RH (၁၀% – ၉၈% RH/၅% – ၉၈% RH သည် အထူးရွေးချယ်မှုအခြေအနေများဖြစ်သည်) |
| 3 | အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု တိကျမှု/တသမတ်တည်းရှိမှု | ± 0.1 ℃; ရင်အုံ/± 1.0 ℃; ရင်အုံ |
| 4 | အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆ ထိန်းချုပ်မှု တိကျမှု/အတက်အကျ | ± ၁.၀ ℃; ရင်အုံ/± ၀.၅ ℃; ရင်အုံ |
| 5 | အပူပေး/အအေးပေးချိန် | တစ်မိနစ်လျှင် ၃.၀ ℃ ခန့်၊ တစ်မိနစ်လျှင် ၁.၀ ℃ ခန့် (အထူးရွေးချယ်မှုအတွက် ၂~၁၀ ℃/မိနစ်) |
| 6 | အတွင်းပိုင်းနှင့် အပြင်ပိုင်းပစ္စည်းများ | အပြင်ဘက်သေတ္တာအတွက် SUS304 # သံမဏိ မျက်နှာပြင်အစင်းကြောင်းကုသမှု သို့မဟုတ် အအေးလှိမ့်သံမဏိပြားဖုတ်ခြင်းအပြီးသတ်ကုသမှု (ရွေးချယ်နိုင်သည်) နှင့် အတွင်းပိုင်းသေတ္တာအတွက် SUS304 # သံမဏိ |
| 7 | အပူလျှပ်ကာပစ္စည်း | အပူချိန်မြင့်မားစွာခံနိုင်ရည်ရှိသော သိပ်သည်းဆမြင့်မားသော ဗီနိုင်းဖော်မတ်အမြှုပ် အပူလျှပ်ကာပစ္စည်း |
| 8 | အအေးပေးစနစ် | လေအေးပေးစက်/တစ်ပိုင်းပါ ကွန်ပရက်ဆာ (- ၂၀ ℃~- ၄၀ ℃)၊ လေနှင့်ရေအေးပေးစက်/နှစ်ပိုင်းပါ ကွန်ပရက်ဆာ (- ၄၀ ℃~- ၇၀ ℃) |
| 9 | ကာကွယ်ရေးပစ္စည်း | ဖျူ့စ်မပါသောခလုတ်၊ ကွန်ပရက်ဆာ အလွန်အကျွံ ဝန်ပိမှုကာကွယ်သည့်ခလုတ်၊ ရေခဲသေတ္တာဖိအား အမြင့်ဆုံးနှင့် နိမ့်ဆုံးကာကွယ်သည့်ခလုတ်၊ စိုထိုင်းဆလွန်ကဲမှုနှင့် အပူချိန်လွန်ကဲမှုကာကွယ်သည့်ခလုတ်၊ ဖျူ့စ်၊ ချို့ယွင်းချက်သတိပေးစနစ် |
| 10 | ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ | မှတ်တမ်းတင်စက် (ရွေးချယ်နိုင်သည်)၊ ကြည့်ရှုရန် ပြတင်းပေါက်၊ ၅၀ မီလီမီတာ စမ်းသပ်ပေါက်၊ PL သေတ္တာထဲရှိ မီးခွက်၊ ကန့်လန့်ကာ၊ စိုစွတ်သောနှင့် ခြောက်သွေ့သော မီးသီးပိတ်စ |
| 11 | ထိန်းချုပ်ကိရိယာ | ကိုရီးယား “TEMI” တောင်ကိုရီးယား “TEMI” သို့မဟုတ် ဂျပန် “OYO” အမှတ်တံဆိပ် ရွေးချယ်နိုင်သည် |
| 12 | ကွန်ပရက်ဆာ | ပြင်သစ် “Taikang” အမှတ်တံဆိပ် |
| 13 | လျှပ်စစ်ဓာတ်အားထုတ်ပေးသောကိရိယာ | AC380V 50HZ/60HZ 3 Φ |
| 14 | မှတ်ချက်များ | ၁၀ ကုဗမီတာအောက်ကို ရွေ့လျားနိုင်သော အဆောက်အအုံ သို့မဟုတ် ဂိုဒေါင်ပြားတပ်ဆင်သည့် အဆောက်အအုံအဖြစ် ပြုလုပ်နိုင်ပြီး ၁၀ ကုဗမီတာအထက်အားလုံးသည် ဂိုဒေါင်ပြားတပ်ဆင်သည့် အဆောက်အအုံများဖြစ်သည်။ |
| 1 | GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 အပူချိန်နိမ့် စမ်းသပ်နည်းလမ်း |
| 2 | GB/T232.2-2008 အပူချိန်မြင့်စမ်းသပ်နည်းလမ်း |
| 3 | GJB150.3A-2009 အပူချိန်မြင့်စမ်းသပ်နည်းလမ်း |
| 4 | GJB150.4A-2009 အပူချိန်နိမ့်စမ်းသပ်နည်းလမ်း |
| 5 | GB2423.22-2008 အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှုန်းအတွက် စမ်းသပ်နည်းလမ်း |
| 6 | အပူချိန်စမ်းသပ်ခန်း၏ စွမ်းဆောင်ရည်အတည်ပြုချက် (GBT2424.5-2006) |
| 7 | GB/T10586-2008 အပူချိန်နိမ့်စမ်းသပ်ခန်းအတွက် နည်းပညာဆိုင်ရာအခြေအနေများ |
| 8 | GB/T2423.3-2008 (EC68-2-3) စဉ်ဆက်မပြတ်စိုထိုင်းဆနှင့်အပူအတွက်စမ်းသပ်နည်းလမ်း |
| 9 | GJB150.9A-2009 စိုထိုင်းဆနှင့် အပူစမ်းသပ်နည်းလမ်း |
| 10 | G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 အပြန်အလှန်စိုစွတ်သောအပူနည်းလမ်း |
| 11 | GB/T5170.18-2005 စမ်းသပ်ကိရိယာ အခြေခံ ကန့်သတ်ချက် အတည်ပြုခြင်း နည်းလမ်း |
| 12 | GB/T10586-2006 စိုထိုင်းဆအပူစမ်းသပ်ခန်းအတွက် နည်းပညာဆိုင်ရာအခြေအနေများ |
| 13 | အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆ စမ်းသပ်ခန်း၏ စွမ်းဆောင်ရည် အတည်ပြုချက် (GBT2424.6-2006) |
| 14 | GBT2424.7-2006 (ဝန်နှင့်အတူ) အပူချိန်စမ်းသပ်ခန်းတိုင်းတာခြင်း |
သင့်စာကို ဤနေရာတွင် ရေးပြီး ကျွန်ုပ်တို့ထံ ပေးပို့ပါ။
