sida

Produkter

LT-TS3-42 Köld- och termisk chocktestkammare med tre lådor

Kort beskrivning:

Denna termiska chocktestkammare med tre lådor har oberoende högtemperatur-, lågtemperatur- och testzoner för statisk termisk chocktestning. Den utvärderar materialtolerans vid snabba temperaturförändringar och avslöjar snabbt fysiska skador eller prestandaförsämring orsakad av termisk expansion och kontraktion.


Produktinformation

Produktetiketter

Produktparametrar
1 Temperaturintervall (150 ℃ – F: – 45 ℃; S: ℃); Högtemperaturzon i högtemperaturzon: +60 ℃~+150 ℃; Lågtemperaturzon i lågtemperaturzon: – 10 ℃~- 65 ℃; )
2 Uppvärmningstid (värmelagringsområde) cirka 35 minuter för rumstemperatur ~ 200 ℃
3 Kylningstid (kyla förvaringsutrymme) cirka 85 minuter för rumstemperatur ~ - 70 ℃
4 Temperaturåterhämtningstid/omkopplingstid ≤ 5 min/≤ 5 sek
5 Noggrannhet i temperaturkontroll/fördelning ± 0,5 ℃/± 2,5 ℃
6 Interna och externa material Den yttre lådan SUS304 # är tillverkad av rostfritt stål, och den inre lådan SUS304 # är tillverkad av rostfritt stål
7 Isoleringsmaterial Högtemperaturbeständigt isoleringsmaterial av högdensitetsaluminiumsilikatlödd bomull eller PU-skum
8 System PID+SSR+Mikrodatorbalanserat temperaturregleringssystem
9 Kylsystem halvhermetisk tvåstegskompressor (vattenkyld)/helhermetisk tvåstegskompressor (luftkyld)
10 Säkerhetsskyddsanordning ingen säkringsbrytare, kompressorns hög- och lågtrycksskyddsbrytare, köldmediumhögtrycksskyddsbrytare, felvarningssystem, elektroniskt larm
11 Beslag visningsfönster (specialtillval), två justerbara övre och nedre lager, hål för mätledning för påslagning, hjul, horisontellt stöd
12 Strömförsörjning AC380V 50Hz/60Hz 3Φ
13 Kontroller Koreanska ”TEMI” Sydkorea ”TEMI” eller japanska märket ”OYO” Valfritt
14 Kompressor Frankrikes varumärke "Tecumseh"

 

Standard
1 GJB 150.5A-2009 temperaturpåverkanstest
2 GB/T 2424.13-2002 Temperaturpåverkanstest
3 GJB 360B-2009 temperaturpåverkanstest
4 GB/T 2423.2-2008 Högtemperaturtestmetod
5 GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-21-2007 Lågtemperaturtestmetod
6 GB/T 10589-2008 Tekniska villkor för lågtemperaturtestkammare
7 GB/T 11158-2008 Teknisk specifikation för högtemperaturtestkammare

 


  • Tidigare:
  • Nästa:

  • Skriv ditt meddelande här och skicka det till oss