Trezons termisk chocktestkammare

Kort beskrivning:

Termisk chockprovningskammare utvärderar toleransen hos materialstrukturer eller kompositmaterial under omväxlande extrema höga och låga temperaturer under kort tid. Den hjälper till att undersöka kemiska förändringar eller fysiska skador orsakade av termisk expansion och kontraktion inom minimal testtid.

Tillämpliga material inkluderar metaller, plaster, gummi, elektroniska komponenter med mera. Testresultaten ger en tillförlitlig referens för produktoptimering och designförbättring.

BEGÄR EFTER GRATIS OFFERT

Produktinformation

Produktetiketter

Produktparametrar
1	Temperaturintervall	(150 ℃ – F: – 45 ℃; S: ℃); Högtemperaturzon i högtemperaturzon: +60 ℃~+150 ℃; Lågtemperaturzon i lågtemperaturzon: – 10 ℃~- 65 ℃; ）
2	Uppvärmningstid (värmelagringsområde)	cirka 35 minuter för rumstemperatur ~ 200 ℃
3	Kylningstid (kyla förvaringsutrymme)	cirka 85 minuter för rumstemperatur ~ - 70 ℃
4	Temperaturåterhämtningstid/omkopplingstid	≤ 5 min/≤ 5 sek
5	Noggrannhet i temperaturkontroll/fördelning	± 0,5 ℃/± 2,5 ℃
6	Interna och externa material	Den yttre lådan SUS304 # är tillverkad av rostfritt stål, och den inre lådan SUS304 # är tillverkad av rostfritt stål
7	Isoleringsmaterial	Högtemperaturbeständigt isoleringsmaterial av högdensitetsaluminiumsilikatlödd bomull eller PU-skum
8	System	PID+SSR+Mikrodatorbalanserat temperaturregleringssystem
9	Kylsystem	halvhermetisk tvåstegskompressor (vattenkyld)/helhermetisk tvåstegskompressor (luftkyld)
10	Säkerhetsskyddsanordning	ingen säkringsbrytare, kompressorns hög- och lågtrycksskyddsbrytare, köldmediumhögtrycksskyddsbrytare, felvarningssystem, elektroniskt larm
11	Beslag	visningsfönster (specialtillval), två justerbara övre och nedre lager, hål för mätledning för påslagning, hjul, horisontellt stöd
12	Strömförsörjning	AC380V 50Hz/60Hz 3Φ
13	Kontroller	Koreanska ”TEMI” Sydkorea ”TEMI” eller japanska märket ”OYO” Valfritt
14	Kompressor	Frankrikes varumärke "Tecumseh"

Standard
1	GJB 150.5A-2009 temperaturpåverkanstest
2	GB/T 2424.13-2002 Temperaturpåverkanstest
3	GJB 360B-2009 temperaturpåverkanstest
4	GB/T 2423.2-2008 Högtemperaturtestmetod
5	GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-21-2007 Lågtemperaturtestmetod
6	GB/T 10589-2008 Tekniska villkor för lågtemperaturtestkammare
7	GB/T 11158-2008 Teknisk specifikation för högtemperaturtestkammare