sida

Produkter

LT-KTH-80 Testkammare för höga och låga temperaturer

Kort beskrivning:

Testkammaren för höga och låga temperaturer simulerar extrema temperaturmiljöer för att utvärdera produkters och materials prestanda och snabbt identifiera potentiella brister för att säkerställa och förbättra kvaliteten och tillförlitligheten.


Produktinformation

Produktetiketter

Produktparametrar
1 Temperaturintervall - 70 ℃~+100 ℃ (150 ℃) (Temperatur: – 20 ℃, F: – 40 ℃, S: – 70 ℃)
2 Fuktighetsintervall 20 % – 98 % RF (10 % – 98 % RF/5 % – 98 % RF är speciella urvalsvillkor)
3 Noggrannhet/jämnhet i temperatur- och fuktighetsanalys ± 0,1 ℃; RF/± 1,0 ℃; RF
4 Noggrannhet/fluktuation i temperatur- och fuktighetskontroll ± 1,0 ℃; RF/± 0,5 ℃; RF
5 Temperaturökning/-sänkningstid 2~15 ℃/min i genomsnitt (5~15 ℃/min för maskiner över 408L)
6 Interna och externa material Ytterlådan är i rostfritt stål SUS304 # med ytbehandling av randar, och innerlådan är i rostfritt stål SUS304 #
7 Isoleringsmaterial Högtemperaturbeständigt isoleringsmaterial av vinylformatskum med hög densitet
8 Kylsystem luft- och vattenkyld/dubbelsektionerad kompressor
9 Skyddsanordning säkringsfri brytare, överbelastningsskydd för kompressor, skyddsbrytare för högt och lågt tryck i köldmediet, skyddsbrytare för överfuktighet och övertemperatur, säkring, felvarningssystem
10 Beslag Inspelare (valfritt), visningsfönster, 50 mm testhål, lampa i PL-låda, skiljevägg, vått och torrt glödlampsnät
11 Kontroller Koreanska "TEMI" eller japanska "OYO"-märket är valfritt
12 Kompressor Franska märket ”Taikang”
13 Strömförsörjning 3 Φ 380 V AC ± 10 % 50/60 Hz

 

Standard
1 GB1158 Tekniska villkor för högtemperaturtestkammare
2 GB10589-2008 Tekniska villkor för lågtemperaturtestkammare
3 GB10592-2008 Tekniska villkor för testkammare för hög och låg temperatur
4 GB/T2423.1-2009 Testmetod för lågtemperaturprovningskammare
5 GB/T232.2-2009 Testmetod för högtemperaturprovningskammare
6 GB/T232.2-2008 Testmetod för temperaturförändring
7 IEC60068-2-2.005 Testmetod för lågtemperaturprovningskammare
8 IEC60068-22.2005 Testmetod för högtemperaturprovningskammare
9 GJB150.3A högtemperaturtest
10 GJB150.4A lågtemperaturtest

 


  • Tidigare:
  • Nästa:

  • Skriv ditt meddelande här och skicka det till oss