Phone: +86 13612719440

E-mail: manager@lituotesting.com
עַמוּד

מוצרים

תא בדיקה בטמפרטורה גבוהה ונמוכה

תיאור קצר:

התא בדיקה בטמפרטורה גבוהה ונמוכההיא מערכת בדיקות סימולציה סביבתית שנועדה לחשוף מוצרים וחומרים לתנאי טמפרטורה גבוהים ונמוכים מבוקרים. היא מסייעת ליצרנים לזהות פגמים פוטנציאליים, להעריך את ביצועי המוצר ולאמת אמינות בסביבות טמפרטורה שונות.

עם טווח טמפרטורות עד-70°C ועד +100°C או +150°C, התא יכול לבצע בדיקות בטמפרטורה גבוהה, בטמפרטורה נמוכה ושינויי טמפרטורה. המערכת משתמשת בתא בדיקה מפלדת אל-חלד SUS304, בידוד תרמי בצפיפות גבוהה, מערכת קירור דחיסה דו-שלבית ומגוון התקני הגנה בטיחותיים לפעולה יציבה לטווח ארוך.

התא מתאים לפיתוח מוצרים, בקרת איכות, בדיקות אמינות ובדיקות סביבתיות במגוון רחב של תעשיות.


פרטי מוצר

תגי מוצר

פרמטרים של מוצר
1 טווח טמפרטורות - 70 ℃~+100 ℃ (150 ℃) (טמפרטורה: – 20 ℃, פרנהייט: – 40 ℃, דרום: – 70 ℃)
2 טווח לחות 20% – 98% לחות יחסית (10% – 98% לחות יחסית/5% – 98% לחות יחסית הם תנאי בחירה מיוחדים)
3 דיוק/אחידות ניתוח טמפרטורה ולחות ± 0.1 ℃; לחות יחסית/± 1.0 ℃; לחות יחסית
4 דיוק/תנודות בקרת טמפרטורה ולחות ± 1.0 ℃; לחות יחסית/± 0.5 ℃; לחות יחסית
5 זמן עליית/ירידת טמפרטורה 2~15 ℃/דקה בממוצע (5~15 ℃/דקה עבור מכונה מעל 408L)
6 חומרים פנימיים וחיצוניים הקופסה החיצונית עשויה מפלדת אל-חלד SUS304 # עם טיפול פסים על פני השטח, והקופסה הפנימית עשויה מפלדת אל-חלד SUS304 #
7 חומר בידוד חומר בידוד קצף ויניל פורמט בצפיפות גבוהה עמיד בטמפרטורה גבוהה
8 מערכת קירור מדחס מקורר אוויר ומים/דו-חלקי
9 התקן הגנה מתג ללא נתיך, מתג הגנה מפני עומס יתר של המדחס, מתג הגנה מפני לחץ גבוה ונמוך של נוזל קירור, מתג הגנה מפני לחות יתר וטמפרטורה יתר, נתיך, מערכת התרעה על תקלות
10 אביזרים מקליט (אופציונלי), חלון צפייה, חור בדיקה 50 מ"מ, מנורה בקופסת PL, מחיצה, גזה רטובה ויבשה של נורה
11 בַּקָר מותג קוריאני "TEMI" או יפני "OYO" אופציונלי
12 מַדחֵס מותג צרפתי "Taikang"
13 ספק כוח 3Φ 380VAC ± 10% 50/60Hz

 

תֶקֶן
1 GB1158 תנאים טכניים לתא בדיקה בטמפרטורה גבוהה
2 GB10589-2008 תנאים טכניים לתא בדיקה בטמפרטורה נמוכה
3 GB10592-2008 תנאים טכניים עבור מערכות גבוהות ותא בדיקה בטמפרטורה נמוכה
4 GB/T2423.1-2009 שיטת בדיקה לתא בדיקה בטמפרטורה נמוכה
5 GB/T232.2-2009 שיטת בדיקת תא בדיקה בטמפרטורה גבוהה
6 שיטת בדיקה GB/T232.2-2008 לשינוי טמפרטורה
7 שיטת בדיקה של תא בדיקה בטמפרטורה נמוכה של IEC60068-2-2.005
8 שיטת בדיקה של תא בדיקה בטמפרטורה גבוהה של IEC60068-22.2005
9 בדיקת טמפרטורה גבוהה GJB150.3A
10 בדיקת טמפרטורה נמוכה GJB150.4A

 

展示1 展示1 展示2 展示3 展示4 展示5

 


  • קוֹדֵם:
  • הַבָּא:

  • כתבו את הודעתכם כאן ושלחו אותה אלינו