Phone: +86 13612719440

E-mail: manager@lituotesting.com
עַמוּד

מוצרים

תא בדיקת הלם תרמי דו-אזורי

תיאור קצר:

התא בדיקת הלם תרמי דו-אזורינועד להעריך את יכולתם של חומרים, רכיבים ומוצרים מוגמרים לעמוד בשינויים פתאומיים בין טמפרטורות גבוהות ונמוכות במיוחד. על ידי העברה מהירה של דגימות בדיקה בין אזורים חמים וקרים, התא מאיץ התפשטות והתכווצות תרמית, ומסייע בחשיפת נזקים פיזיים, התדרדרות חומרים וכשלים פוטנציאליים.

הציוד מתאים לבדיקותמתכות, פלסטיק, גומי, רכיבים אלקטרוניים וחומרים מרוכביםהוא משתמש באזורי טמפרטורה גבוהים ונמוכים נפרדים כדי להשיג מעברי טמפרטורה מהירים, מה שהופך אותו מתאים לבדיקות הלם תרמי ואמינות במקומות בהם מחזורי טמפרטורה קונבנציונליים עשויים להימשך זמן רב יותר.

מערכת בקרת טמפרטורה מיקרו-מחשב PID + SSR מספקת ויסות טמפרטורה יציב, בעוד שמערכת קירור דחיסה דו-שלבית תומכת בתנאי טמפרטורה נמוכים תובעניים.


פרטי מוצר

תגי מוצר

פרמטרים של מוצר
1 טווח טמפרטורות (150 ℃ – פרנהייט: – 45 ℃; דרום: ℃); אזור טמפרטורה גבוהה באזור טמפרטורה גבוהה: +60 ℃~+150 ℃; אזור טמפרטורה נמוכה באזור טמפרטורה נמוכה: – 10 ℃~- 65 ℃; )
2 זמן חימום (אזור אחסון חום) כ-35 דקות עבור RT ~ 200 ℃
3 זמן קירור (אזור אחסון קר) כ-85 דקות עבור RT ~- 70 ℃
4 זמן התאוששות טמפרטורה/זמן מיתוג ≤ 5 דקות/≤ 10 שניות
5 דיוק בקרת טמפרטורה/דיוק פיזור ± 0.5 ℃/± 2.0 ℃
6 חומרים פנימיים וחיצוניים טיפול פני שטח ערפל פלטת נירוסטה SUS 304 # לכל המכונה, קופסה פנימית נירוסטה
7 חומר בידוד חומר בידוד קצף ויניל פורמט בצפיפות גבוהה עמיד בטמפרטורה גבוהה
8 מַעֲרֶכֶת PID+SSR+מערכת בקרת ויסות טמפרטורה מאוזנת של מיקרו-מחשב
9 מערכת קירור מדחס דו-שלבי חצי-הרמטי (מקורר מים)/מדחס דו-שלבי הרמטי לחלוטין (מקורר אוויר)
10 התקן הגנה בטיחותי אין מתג נתיך, מתג הגנה על לחץ גבוה ונמוך של המדחס, מתג הגנה על לחץ גבוה של קירור, מערכת התרעה על תקלות, אזעקה אלקטרונית
11 אביזרים חלון צפייה (אופציה מיוחדת), שתי שכבות מתכווננות עליונות ותחתונות, חור קו מדידה להפעלה, גלגלים, תמיכה אופקית
12 ספק כוח AC380V 50HZ/60HZ 3 Φ
13 בַּקָר מותג "TEMI" קוריאני, מותג "TEMI" דרום קוריאני או מותג "OYO" יפני, אופציונלי
14 מַדחֵס מותג "Tecumseh" של צרפת

 

תֶקֶן
1 בדיקת פגיעה בטמפרטורה GJB 150.5A-2009
2 בדיקת פגיעה בטמפרטורה GB/T 2424.13-2002
3 בדיקת פגיעה בטמפרטורה GJB 360B-2009
4 שיטת בדיקה בטמפרטורה גבוהה GB/T 2423.2-2008
5 שיטת בדיקה בטמפרטורה נמוכה GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-21-2007
6 תנאים טכניים של GB/T 10589-2008 לתא בדיקה בטמפרטורה נמוכה
7 מפרט טכני GB/T 11158-2008 לתא בדיקה בטמפרטורה גבוהה

展示1 展示2 展示3 展示4 展示5

 


  • קוֹדֵם:
  • הַבָּא:

  • כתבו את הודעתכם כאן ושלחו אותה אלינו