LT-TS2-49 Komora testowa do badań szokowych na zimno i na gorąco z dwoma komorami
| 1 | Zakres temperatur | (150 ℃ – F: – 45 ℃; S: ℃); Strefa wysokiej temperatury w strefie wysokiej temperatury: +60 ℃~+150 ℃; Strefa niskiej temperatury w strefie niskiej temperatury: – 10 ℃~- 65 ℃; ） |
| 2 | Czas nagrzewania (powierzchnia magazynowania ciepła) | około 35 min w temperaturze pokojowej ~200 ℃ |
| 3 | Czas chłodzenia (pomieszczenie chłodnicze) | około 85 min dla RT~-70 ℃ |
| 4 | Czas odzyskiwania temperatury/czas przełączania | ≤ 5 min/≤ 10 sek |
| 5 | Dokładność kontroli temperatury/dokładność rozkładu | ± 0,5 ℃/± 2,0 ℃ |
| 6 | Materiały wewnętrzne i zewnętrzne | SUS 304 #, obróbka powierzchni całej maszyny metodą mgły ze stali nierdzewnej, wewnętrzna obudowa ze stali nierdzewnej |
| 7 | Materiał izolacyjny | Materiał izolacyjny z pianki winylowo-mrówczanowej o wysokiej gęstości, odporny na wysokie temperatury |
| 8 | System | PID+SSR+Mikrokomputerowy system regulacji temperatury zrównoważony |
| 9 | Układ chłodzenia | sprężarka dwustopniowa półhermetyczna (chłodzona wodą)/sprężarka dwustopniowa całkowicie hermetyczna (chłodzona powietrzem) |
| 10 | Urządzenie zabezpieczające | wyłącznik bez bezpiecznika, wyłącznik zabezpieczający przed wysokim i niskim ciśnieniem sprężarki, wyłącznik zabezpieczający przed wysokim ciśnieniem czynnika chłodniczego, system ostrzegania o usterkach, alarm elektroniczny |
| 11 | Armatura | okienko kontrolne (opcja specjalna), dwie regulowane warstwy górna i dolna, otwór na przewód pomiarowy, kółko, podpora pozioma |
| 12 | Zasilacz | AC380V 50HZ/60HZ 3 Φ |
| 13 | Kontroler | Koreański „TEMI” Korea Południowa „TEMI” lub japoński „OYO” Marka opcjonalna |
| 14 | Kompresor | Marka „Tecumseh” we Francji |
| 1 | Badanie odporności na temperaturę GJB 150.5A-2009 |
| 2 | GB/T 2424.13-2002 Badanie odporności na uderzenie temperatury |
| 3 | Badanie odporności na temperaturę GJB 360B-2009 |
| 4 | GB/T 2423.2-2008 Metoda badania w wysokiej temperaturze |
| 5 | GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-21-2007 Metoda badania w niskiej temperaturze |
| 6 | GB/T 10589-2008 Warunki techniczne dla komory testowej niskotemperaturowej |
| 7 | GB/T 11158-2008 Specyfikacja techniczna dla komory testowej wysokotemperaturowej |
Napisz tutaj swoją wiadomość i wyślij ją do nas
