Komora testowa do wysokich i niskich temperatur LT-KTH-80
| 1 | Zakres temperatur | - 70 ℃~+100 ℃ (150 ℃) (T: – 20 ℃ F: – 40 ℃ S: – 70 ℃) |
| 2 | Zakres wilgotności | 20% – 98% RH (10% – 98% RH/5% – 98% RH to specjalne warunki selekcji) |
| 3 | Dokładność/jednolitość analizy temperatury i wilgotności | ± 0,1 ℃; wilgotność względna/± 1,0 ℃; wilgotność względna |
| 4 | Dokładność/wahania kontroli temperatury i wilgotności | ± 1,0 ℃; wilgotność względna/± 0,5 ℃; wilgotność względna |
| 5 | Czas wzrostu/spadku temperatury | Średnio 2~15 ℃/min (5~15 ℃/min dla maszyn powyżej 408L) |
| 6 | Materiały wewnętrzne i zewnętrzne | Zewnętrzne pudełko jest wykonane ze stali nierdzewnej SUS304 # z wykończeniem powierzchni w paski, a wewnętrzne pudełko jest wykonane ze stali nierdzewnej SUS304 # |
| 7 | Materiał izolacyjny | Materiał izolacyjny z pianki winylowo-mrówczanowej o wysokiej gęstości, odporny na wysokie temperatury |
| 8 | Układ chłodzenia | sprężarka chłodzona powietrzem i wodą/dwusekcyjna |
| 9 | Urządzenie zabezpieczające | wyłącznik bezbezpiecznikowy, wyłącznik zabezpieczający przed przeciążeniem sprężarki, wyłącznik zabezpieczający przed wysokim i niskim ciśnieniem czynnika chłodniczego, wyłącznik zabezpieczający przed nadmierną wilgotnością i nadmierną temperaturą, bezpiecznik, system ostrzegania o usterkach |
| 10 | Armatura | Rejestrator (opcjonalnie), okienko kontrolne, otwór testowy 50 mm, lampa w skrzynce PL, przegroda, gaza do pomiaru temperatury na mokro i na sucho |
| 11 | Kontroler | Opcjonalnie koreańska marka „TEMI” lub japońska „OYO” |
| 12 | Kompresor | Francuska marka „Taikang” |
| 13 | Zasilacz | 3 Φ 380VAC ± 10% 50/60Hz |
| 1 | GB1158 Warunki techniczne dla komory testowej wysokotemperaturowej |
| 2 | GB10589-2008 Warunki techniczne dla komory testowej niskotemperaturowej |
| 3 | GB10592-2008 Warunki techniczne dla komór testowych o wysokiej i niskiej temperaturze |
| 4 | GB/T2423.1-2009 Metoda badania w komorze testowej niskotemperaturowej |
| 5 | GB/T232.2-2009 Metoda badania w komorze testowej wysokotemperaturowej |
| 6 | GB/T232.2-2008 Metoda badania zmiany temperatury |
| 7 | IEC60068-2-2.005 Metoda badania w komorze testowej niskotemperaturowej |
| 8 | IEC60068-22.2005 Metoda badania w komorze testowej wysokotemperaturowej |
| 9 | Test w wysokiej temperaturze GJB150.3A |
| 10 | Test niskotemperaturowy GJB150.4A |
Napisz tutaj swoją wiadomość i wyślij ją do nas
