stránka

Produkty

Skúšobná komora LT-KTH-80 pre vysoké a nízke teploty

Stručný popis:

Testovacia komora pre vysoké a nízke teploty simuluje extrémne teplotné prostredia na vyhodnotenie výkonu produktov a materiálov, rýchlo identifikuje potenciálne nedostatky, aby sa zabezpečila a zvýšila spoľahlivosť kvality.


Detaily produktu

Značky produktov

Parametre produktu
1 Teplotný rozsah -70 ℃~+100 ℃ (150 ℃) (T: –20 ℃ F: –40 ℃ S: –70 ℃)
2 Rozsah vlhkosti 20 % – 98 % relatívnej vlhkosti (10 % – 98 % relatívnej vlhkosti/5 % – 98 % relatívnej vlhkosti sú špeciálne podmienky výberu)
3 Presnosť/jednotnosť analýzy teploty a vlhkosti ± 0,1 ℃; relatívnej vlhkosti/± 1,0 ℃; relatívnej vlhkosti
4 Presnosť/kolísanie regulácie teploty a vlhkosti ± 1,0 ℃; relatívnej vlhkosti/± 0,5 ℃; relatívnej vlhkosti
5 Čas nárastu/poklesu teploty Priemerne 2~15 ℃/min (5~15 ℃/min pre stroje nad 408L)
6 Vnútorné a vonkajšie materiály Vonkajšia krabica je z nehrdzavejúcej ocele SUS304 # s povrchovou úpravou pruhmi a vnútorná krabica je z nehrdzavejúcej ocele SUS304 #
7 Izolačný materiál Vysokoteplotne odolný izolačný materiál z vinylformiátovej peny s vysokou hustotou
8 Chladiaci systém vzduchom a vodou chladený/dvojsekčný kompresor
9 Ochranné zariadenie nepoistkový spínač, ochranný spínač kompresora proti preťaženiu, ochranný spínač proti vysokému a nízkemu tlaku chladiva, ochranný spínač proti nadmernej vlhkosti a prehriatiu, poistka, systém varovania pred poruchou
10 Kovania Záznamník (voliteľné), priezor, 50 mm testovací otvor, lampa v PL skrinke, prepážka, vlhká a suchá termická gáza
11 Ovládač Kórejská značka „TEMI“ alebo japonská značka „OYO“ je voliteľná
12 Kompresor Francúzska značka „Taikang“
13 Napájací zdroj 3 Φ 380 V AC ± 10 % 50/60 Hz

 

Štandard
1 GB1158 Technické podmienky pre vysokoteplotnú testovaciu komoru
2 GB10589-2008 Technické podmienky pre nízkoteplotnú testovaciu komoru
3 GB10592-2008 Technické podmienky pre testovaciu komoru s vysokou a nízkou teplotou
4 GB/T2423.1-2009 Metóda skúšobnej komory pri nízkych teplotách
5 GB/T232.2-2009 Metóda skúšobnej komory s vysokou teplotou
6 GB/T232.2-2008 Skúšobná metóda pre zmenu teploty
7 IEC60068-2-2.005 Metóda skúšobnej komory pri nízkych teplotách
8 IEC60068-22.2005 Metóda skúšobnej komory s vysokou teplotou
9 Skúška vysokou teplotou GJB150.3A
10 Skúška pri nízkych teplotách GJB150.4A

 


  • Predchádzajúce:
  • Ďalej:

  • Napíšte sem svoju správu a pošlite nám ju