side

Produkter

LT-KTH-80 Testkammer til høje og lave temperaturer

Kort beskrivelse:

Testkammeret for høje og lave temperaturer simulerer ekstreme temperaturmiljøer for at evaluere produkters og materialers ydeevne og hurtigt identificere potentielle fejl for at sikre og forbedre kvaliteten og pålideligheden.


Produktdetaljer

Produktmærker

Produktparametre
1 Temperaturområde - 70 ℃~+100 ℃ (150 ℃) (Temperatur: – 20 ℃, F: – 40 ℃, S: – 70 ℃)
2 Fugtighedsområde 20% – 98% RF (10% – 98% RF/5% – 98% RF er særlige udvælgelsesbetingelser)
3 Nøjagtighed/ensartethed af temperatur- og fugtighedsanalyse ± 0,1 ℃; RF/± 1,0 ℃; RF
4 Nøjagtighed/fluktuation i temperatur- og fugtighedskontrol ± 1,0 ℃; RF/± 0,5 ℃; RF
5 Temperaturstigning/-faldstid 2~15 ℃/min i gennemsnit (5~15 ℃/min for maskiner over 408L)
6 Interne og eksterne materialer Den ydre kasse er SUS304 # rustfrit stål med overfladebehandling, og den indre kasse er SUS304 # rustfrit stål
7 Isoleringsmateriale Højtemperaturbestandigt vinylformiatskumisoleringsmateriale med høj densitet
8 Kølesystem luft- og vandkølet/dobbeltsektion kompressor
9 Beskyttelsesanordning Sikringsfri afbryder, overbelastningsbeskyttelsesafbryder til kompressor, beskyttelsesafbryder til højt og lavt kølemiddel, beskyttelsesafbryder mod overfugtighed og overtemperatur, sikring, fejladvarselssystem
10 Fittings Optager (valgfri), inspektionsvindue, 50 mm testhul, lampe i PL-boks, skillevæg, våd og tør pæretråd
11 Controller Det koreanske mærke "TEMI" eller det japanske mærke "OYO" er valgfrit
12 Kompressor Fransk mærke "Taikang"
13 Strømforsyning 3 Φ 380VAC ± 10% 50/60Hz

 

Standard
1 GB1158 Tekniske betingelser for højtemperatur testkammer
2 GB10589-2008 Tekniske betingelser for lavtemperatur testkammer
3 GB10592-2008 Tekniske betingelser for testkammer med høj og lav temperatur
4 GB/T2423.1-2009 Testmetode for lavtemperatur-testkammer
5 GB/T232.2-2009 Testmetode for højtemperaturkammer
6 GB/T232.2-2008 Testmetode til temperaturændring
7 IEC60068-2-2.005 Testmetode for lavtemperatur-testkammer
8 IEC60068-22.2005 Testmetode for højtemperatur-testkammer
9 GJB150.3A højtemperaturtest
10 GJB150.4A lavtemperaturtest

 


  • Tidligere:
  • Næste:

  • Skriv din besked her og send den til os