ห้องทดสอบการเร่งอายุด้วยแรงดันสูง LT-PCT-250 PCT

คำอธิบายโดยย่อ:

ห้องทดสอบเร่งอายุการใช้งานด้วยแรงดันสูง (PCT: Pressure Cooker Test) ใช้ประเมินความสมบูรณ์ของการปิดผนึกและความต้านทานต่อแรงดันของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ และยา ภายใต้สภาวะอุณหภูมิ ความชื้น และแรงดันที่รุนแรง การทดสอบนี้ช่วยเร่งอายุการใช้งานเพื่อระบุข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นได้อย่างรวดเร็ว และให้ข้อมูลสำคัญสำหรับการปรับปรุงการออกแบบ