HAST (Highly Accelerated Stress Test Chamber) คือห้องทดสอบความเครียดแบบเร่งความเร็วสูง

คำอธิบายโดยย่อ:

เดอะHAST (Highly Accelerated Stress Test Chamber) คือห้องทดสอบความเครียดแบบเร่งความเร็วสูงออกแบบมาเพื่อเร่งการเปิดเผยจุดอ่อนด้านความน่าเชื่อถือที่อาจเกิดขึ้นในผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์และอุตสาหกรรม โดยการผสมผสานอุณหภูมิ ความชื้น และความดันสูงเข้าด้วยกัน

ห้องดังกล่าวเหมาะสำหรับการทดสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์, แผงวงจรพิมพ์ (PCB), แผงวงจรพิมพ์หลายชั้น, วงจรรวม (IC), จอ LCD, ชิ้นส่วนยานยนต์, พลาสติก, แม่เหล็ก, ผลิตภัณฑ์ให้แสงสว่าง และผลิตภัณฑ์อื่นๆ ที่ปิดผนึกหรือไวต่อความชื้น.

ด้วยช่วงอุณหภูมิ105–155°Cความชื้นที่ปรับได้ความชื้นสัมพัทธ์ 65–100%และแรงดันจากประมาณความดันเกจ 0.2–3.5 กก./ซม.²ระบบนี้สร้างสภาวะความเครียดทางสิ่งแวดล้อมแบบเร่งด่วนเพื่อประเมินความน่าเชื่อถือ