HAST Højaccelereret Stress Testkammer

Kort beskrivelse:

DeHAST Højaccelereret Stress Testkammerer designet til at fremskynde afsløringen af ​​potentielle pålidelighedssvagheder i elektroniske og industrielle produkter ved at kombinere forhøjet temperatur, fugtighed og tryk.

Kammeret er egnet til testningelektroniske komponenter, printkort, flerlags-printkort, IC'er, LCD'er, bilkomponenter, plast, magneter, belysningsprodukter og andre forseglede eller fugtfølsomme produkter.

Med et temperaturområde på105–155°C, justerbar luftfugtighed fra65–100 % RF, og tryk fra ca.0,2–3,5 kg/cm² overtryk, systemet leverer en accelereret miljømæssig stresstilstand til evaluering af pålidelighed.