Dhoma e Testit të Stresit me Përshpejtim të Lartë HAST

Përshkrim i shkurtër:

I/E/Të/TëDhoma e Testit të Stresit me Përshpejtim të Lartë HASTËshtë projektuar për të përshpejtuar ekspozimin e dobësive të mundshme të besueshmërisë në produktet elektronike dhe industriale duke kombinuar temperaturën, lagështinë dhe presionin e lartë.

Dhoma është e përshtatshme për testimkomponentë elektronikë, PCB, PCB me shumë shtresa, IC, LCD, komponentë automobilistikë, plastikë, magnetë, produkte ndriçimi dhe produkte të tjera të mbyllura ose të ndjeshme ndaj lagështirës.

Me një diapazon temperature prej105–155°C, lagështi e rregullueshme nga65–100% RH, dhe presion nga afërsishtPresion matës 0.2–3.5 kg/cm², sistemi ofron një gjendje të përshpejtuar të stresit mjedisor për vlerësimin e besueshmërisë.