HAST högaccelererad stresstestkammare

Kort beskrivning:

DeHAST högaccelererad stresstestkammareär utformad för att påskynda exponeringen av potentiella tillförlitlighetsbrister i elektroniska och industriella produkter genom att kombinera förhöjd temperatur, fuktighet och tryck.

Kammaren är lämplig för testningelektroniska komponenter, kretskort, flerskiktade kretskort, integrerade integrerade kretsar, LCD-skärmar, bilkomponenter, plast, magneter, belysningsprodukter och andra förseglade eller fuktkänsliga produkter.

Med ett temperaturintervall på105–155 °C, justerbar luftfuktighet från65–100 % RF, och tryck från ungefär0,2–3,5 kg/cm² övertryck, tillhandahåller systemet ett accelererat miljöstressförhållande för tillförlitlighetsutvärdering.