HAST komora za visoko ubrzano ispitivanje opterećenja

Kratak opis:

TheHAST komora za visoko ubrzano ispitivanje opterećenjaje dizajniran da ubrza otkrivanje potencijalnih slabosti u pouzdanosti elektronskih i industrijskih proizvoda kombinovanjem povišene temperature, vlažnosti i pritiska.

Komora je pogodna za testiranjeelektronske komponente, PCB ploče, višeslojne PCB ploče, IC-ovi, LCD-i, automobilske komponente, plastika, magneti, proizvodi za rasvjetu i drugi zatvoreni ili na vlagu osjetljivi proizvodi.

Sa temperaturnim rasponom od105–155°C, podesiva vlažnost od65–100% relativne vlažnosti, i pritisak od približnoMjeračni pritisak od 0,2–3,5 kg/cm², sistem pruža ubrzano ispitivanje uslova naprezanja okoline za procjenu pouzdanosti.