HAST Highly Accelerated Stress Test Chamber

Maikling Paglalarawan:

AngHAST Highly Accelerated Stress Test Chamberay dinisenyo upang mapabilis ang pagkakalantad sa mga potensyal na kahinaan sa pagiging maaasahan sa mga produktong elektroniko at industriyal sa pamamagitan ng pagsasama ng mataas na temperatura, halumigmig, at presyon.

Ang silid ay angkop para sa pagsubokmga elektronikong bahagi, PCB, multilayer PCB, IC, LCD, mga bahagi ng sasakyan, plastik, magnet, mga produkto ng ilaw, at iba pang mga produktong selyado o sensitibo sa kahalumigmigan.

Na may saklaw ng temperatura na105–155°C, naaayos na halumigmig mula sa65–100% RH, at presyon mula sa humigit-kumulang0.2–3.5 kg/cm² na presyon, ang sistema ay nagbibigay ng pinabilis na kondisyon ng stress sa kapaligiran para sa pagsusuri ng pagiging maaasahan.